WEKO3
インデックスリンク
アイテム
{"_buckets": {"deposit": "98bf465d-5f9e-4f84-a87e-ba320f6b2241"}, "_deposit": {"created_by": 16, "id": "372", "owners": [16], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "372"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:mue.repo.nii.ac.jp:00000372", "sets": ["30"]}, "author_link": ["1104", "1359"], "item_10002_biblio_info_7": {"attribute_name": "書誌情報", "attribute_value_mlt": [{"bibliographicIssueDates": {"bibliographicIssueDate": "2011-03-31", "bibliographicIssueDateType": "Issued"}, "bibliographicIssueNumber": "18", "bibliographicPageEnd": "17", "bibliographicPageStart": "13", "bibliographic_titles": [{"bibliographic_title": "宮城教育大学情報処理センター研究紀要 : COMMUE"}, {"bibliographic_title": "COMMUE", "bibliographic_titleLang": "en"}]}]}, "item_10002_description_12": {"attribute_name": "論文ID(NAID)", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "40018869298", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_10002_description_5": {"attribute_name": "抄録", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "本研究室では、超伝導薄膜の作製を行っている。作製された超伝導薄膜の結晶構造は、4軸X線回折装置により評価された。X線回折測定の結果は、付属のソフトウェアにより表示可能であるが、3次元(3D)的に表示させることが出来ないため、視覚的に分かりにくいという問題があった。そこで我々は、LabVIEWを用いて、X線回折測定結果を3D表示させるプログラムを作成した。LabVIEWは、世界中の理工系分野で用いられている計測・制御用ソフトウェアであり、視覚的にプログラムを構築することが出来るため、短期間で実用的なソフトウェアの開発が可能である。本論文では、X線回折測定結果を視覚的に分かりやすく3D表示させるプログラム以外に2D表示で結晶構造を解析するプログラムも作成したので、合わせて報告する。", "subitem_description_type": "Abstract"}]}, "item_10002_publisher_8": {"attribute_name": "出版者", "attribute_value_mlt": [{"subitem_publisher": "宮城教育大学情報処理センター"}]}, "item_10002_source_id_11": {"attribute_name": "書誌レコードID", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "AA12544985", "subitem_source_identifier_type": "NCID"}]}, "item_10002_source_id_9": {"attribute_name": "ISSN", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "1884-7773", "subitem_source_identifier_type": "ISSN"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "大竹, 佑樹"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "1359", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}, {"nameIdentifier": "9000018454048", "nameIdentifierScheme": "CiNii ID", "nameIdentifierURI": "http://ci.nii.ac.jp/nrid/9000018454048"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "内山, 哲治"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "1104", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}, {"nameIdentifier": "9000006124403", "nameIdentifierScheme": "CiNii ID", "nameIdentifierURI": "http://ci.nii.ac.jp/nrid/9000006124403"}]}]}, "item_files": {"attribute_name": "ファイル情報", "attribute_type": "file", "attribute_value_mlt": [{"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2014-07-10"}], "displaytype": "detail", "download_preview_message": "", "file_order": 0, "filename": "comme_18_13-17.pdf", "filesize": [{"value": "888.9 kB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_11", "mimetype": "application/pdf", "size": 888900.0, "url": {"label": "4軸X 線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成", "url": "https://mue.repo.nii.ac.jp/record/372/files/comme_18_13-17.pdf"}, "version_id": "f5b37bbd-7b50-4030-9846-9654800e5012"}]}, "item_keyword": {"attribute_name": "キーワード", "attribute_value_mlt": [{"subitem_subject": "超伝導薄膜", "subitem_subject_scheme": "Other"}, {"subitem_subject": "X線回折", "subitem_subject_scheme": "Other"}, {"subitem_subject": "極図形", "subitem_subject_scheme": "Other"}, {"subitem_subject": "面内配向角", "subitem_subject_scheme": "Other"}, {"subitem_subject": "LabVIEW", "subitem_subject_scheme": "Other"}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "departmental bulletin paper", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_6501"}]}, "item_title": "4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成"}]}, "item_type_id": "10002", "owner": "16", "path": ["30"], "permalink_uri": "https://mue.repo.nii.ac.jp/records/372", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2014-07-10"}, "publish_date": "2014-07-10", "publish_status": "0", "recid": "372", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成"], "weko_shared_id": -1}
4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成
https://mue.repo.nii.ac.jp/records/372
https://mue.repo.nii.ac.jp/records/372f948c84a-4c19-46c7-a292-aeb7f35d0839
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
4軸X 線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成 (888.9 kB)
|
Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2014-07-10 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 超伝導薄膜 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | X線回折 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 極図形 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 面内配向角 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | LabVIEW | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
著者 |
大竹, 佑樹
× 大竹, 佑樹× 内山, 哲治 |
|||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 本研究室では、超伝導薄膜の作製を行っている。作製された超伝導薄膜の結晶構造は、4軸X線回折装置により評価された。X線回折測定の結果は、付属のソフトウェアにより表示可能であるが、3次元(3D)的に表示させることが出来ないため、視覚的に分かりにくいという問題があった。そこで我々は、LabVIEWを用いて、X線回折測定結果を3D表示させるプログラムを作成した。LabVIEWは、世界中の理工系分野で用いられている計測・制御用ソフトウェアであり、視覚的にプログラムを構築することが出来るため、短期間で実用的なソフトウェアの開発が可能である。本論文では、X線回折測定結果を視覚的に分かりやすく3D表示させるプログラム以外に2D表示で結晶構造を解析するプログラムも作成したので、合わせて報告する。 | |||||
書誌情報 |
宮城教育大学情報処理センター研究紀要 : COMMUE en : COMMUE 号 18, p. 13-17, 発行日 2011-03-31 |
|||||
出版者 | ||||||
出版者 | 宮城教育大学情報処理センター | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 1884-7773 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA12544985 | |||||
論文ID(NAID) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 40018869298 |